Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

Dienstag, 18. März 1997, 16:00–19:15, BOT

	16:00	O 20.1	Materialkontrast mit einem Farb–Photonen–Rastertunnelmikroskop — •J. Kinski, H. Brückl, N. Sotnik und W. Elsäßer
	16:15	O 20.2	Abstandskontrolle in einem nahfeldoptischen Mikroskop unter verschiedenen Umgebungsbedingungen — •O. Hering, R. Brunner, A. Simon, O. Hollricher und O. Marti
	16:30	O 20.3	Aufl"osung unbedampfter Spitzen in der Optische Nahfeldmikroskopie: doch beugungsbegrenzt? — •S. Wegscheider, V. Sandoghdar, G. Krausch, and J. Mlynek
	16:45	O 20.4	Preparation of Near-Field Optical Probes — •H. Gao and U. Hartmann
	17:00	O 20.5	Polarisationserhaltung in der magneto-optischen Nahfeldmikroskopie — •F. Matthes, H. Brückl und R. Reiss
	17:15	O 20.6	Polarisationsempfindliche Messungen mit dem Optischen Raster– Nahfeld–Mikroskop — •S. Werner, O. Rudow, Ch. Mihalcea, S. Münster, W. Scholz und E. Oesterschulze
	17:30	O 20.7	Fluoreszenz einzelner Moleküle im konfokalen/nahfeldoptischen Mikroskop — •W. Göhde, J. Tittel, Th. Basché, U.C. Fischer, G. Müller, K. Müllen, H. Fuchs und C. Bräuchle
	17:45	O 20.8	Nichtlinear optische Mikroskopie zur Charakterisierung von Grenzflächen — •Ch. Brillert, M. Wierschem, D. Essing, M. Flörsheimer und H. Fuchs
	18:00	O 20.9	Laser-Frequenzmischexperimente im Rastertunnelmikroskop bei 1,3 µm — •W. Krieger, Th. Gutjahr-L"oser, A. Hornsteiner, and H. Walther
	18:15	O 20.10	Dielektrischer Kontrast im Langwellen-SNOM: Erklärung duch 1dim. Kondensatormodell — •Bernhard Knoll, Fritz Keilmann, Axel Kramer und Reinhard Guckenberger
	18:30	O 20.11	Theoretische Untersuchungen zur optischen Nahfeldmikroskopie — •E. Paule und P. Reineker
	18:45	O 20.12	Nahfeld-Magnetooptik — •A. Englisch, R. Houbertz und U. Hartmann
	19:00	O 20.13	Nahfeldoptische Untersuchung von Farbstoffen zur Strukturaufklärung von Polymeren — •A. Simon, R. Brunner, O. Hollricher, J. Kroener und O. Marti