Konstanz 1998 – wissenschaftliches Programm
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MS: Massenspektrometrie
MS 5: Beschleunigermassenspektrometrie
MS 5.4: Vortrag
Dienstag, 17. März 1998, 14:45–15:00, R611
Beschleuniger-SIMS: Spurenelementanalyse unterhalb des ppb-Bereichs. — •M. Döbeli1, R.M. Ender2, M. Suter2 und H.A. Synal1 — 1Paul Scherrer Institut c/o ETH-Hönggerberg, CH-8093 Zürich, Schweiz. — 2Institut für Teilchenphysik, ETH-Hönggerberg, CH-8093 Zürich, Schweiz.
Die SIMS-Nachweisgrenzen für Spurenelemente können in
manchen Fällen bedeutend verbessert werden, wenn die
Sekundärionen durch ein Beschleunigermassen-spektrometer (BMS)
nachgewiesen werden. Das BMS garantiert die vollständige
Zerstörung von Molekülionen und kann deshalb die
Nachweisgrenze besonders im Falle von molekularen Interferenzen
um Grössenordnungen verbessern. Zudem hat die
Gasionisationskammer, die für die Detektion der beschleunigten
Ionen verwendet wird, keine Dunkelpulse und erlaubt sogar die
Identifikation von Isobaren.
Am PSI/ETH Tandem Beschleunigerlabor wurde ein kommerzielles
SIMS Gerät an das existierende BMS gekoppelt. Die
Leistungsfähigkeit des Instruments wurde charakterisiert und
die Nachweisgrenzen für verschiedene wichtige Spurenelemente
wurden bestimmt. Für die meisten Elemente liegen sie im
niedrigen ppb Bereich oder darunter. Allgemeine Aspekte der
Methode und ihre Möglichkeiten und Grenzen werden diskutiert.
Gemessene Implantationsprofile, Rasterabbildung und Analysen von
Standardproben werden vorgestellt.