Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 10: Schichtabscheidung

Montag, 22. März 1999, 15:30–16:30, H 55

	15:30	DS 10.1	Fachvortrag: In-situ-Beobachtung der Rekristallisation beim Annealen von Solid-Phase-Epitaxie-Schichten mittels Reflektometermessungen in einer MBE-Anlage — •Matthias Bauer, Michael Oehme, Georg Eifler und Meinrad Sauter
	15:45	DS 10.2	Fachvortrag: Epitaktische Abscheidung von Ni-Filmen auf Ioneneinkristallen — •K. Thiele, P. Troche, C. Brandt, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt
	16:00	DS 10.3	Fachvortrag: Influence of different substrates on the texture of thin Co films — •Dilip Sarkar
	16:15	DS 10.4	Fachvortrag: Herstellung und Charakterisierung biaxial texturierter Cer-Gadolinium-Oxid Filme mittels ionenstrahlunterstützter Deposition — •J. Dzick, J. Wiesmann, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt