Münster 1999 – scientific programme
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DS: Dünne Schichten
DS 10: Schichtabscheidung
Monday, March 22, 1999, 15:30–16:30, H 55
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15:30 | DS 10.1 | Fachvortrag: In-situ-Beobachtung der Rekristallisation beim Annealen von Solid-Phase-Epitaxie-Schichten mittels Reflektometermessungen in einer MBE-Anlage — •Matthias Bauer, Michael Oehme, Georg Eifler und Meinrad Sauter |
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15:45 | DS 10.2 | Fachvortrag: Epitaktische Abscheidung von Ni-Filmen auf Ioneneinkristallen — •K. Thiele, P. Troche, C. Brandt, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt |
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16:00 | DS 10.3 | Fachvortrag: Influence of different substrates on the texture of thin Co films — •Dilip Sarkar |
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16:15 | DS 10.4 | Fachvortrag: Herstellung und Charakterisierung biaxial texturierter Cer-Gadolinium-Oxid Filme mittels ionenstrahlunterstützter Deposition — •J. Dzick, J. Wiesmann, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt |