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Münster 1999 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 17: Charakterisierung mittels SXM-Techniken II

Tuesday, March 23, 1999, 11:15–12:30, PC 7

11:15 DS 17.1 Fachvortrag: Kalibrierstandard zur Charakterisierung von SNOM-Sensoren — •A. Vollkopf, O. Rudow und E. Oesterschulze
11:30 DS 17.2 Fachvortrag: Lokale Photolumineszenzuntersuchungen an InGaAs-Schichten mit einem SNOM — •Ulf Thiele, Jörg Schulze, Stefan Hoppe, Thomas Schrimpf, Peter Bönsch, Georg Eggers, Andreas Schlachetzki und Paul Fumagalli
11:45 DS 17.3 Fachvortrag: Lichttransmission durch einzelne Nanolöcher in dünnen Metallfilmen — •G. Steininger, A. Duch, C. Sönnichsen, G. von Plessen, M. Koch, U. Lemmer und J. Feldmann
12:00 DS 17.4 Fachvortrag: Schottky-Sensoren für die Thermische Rastersondenmikroskopie — •T. Leinhos, M. Müller-Wiegand und E. Oesterschulze
12:15 DS 17.5 Fachvortrag: Raster-Wärme-Mikroskopie (SThM) mit thermischen Sonden auf der Basis von Schottky-Dioden — •M. Müller-Wiegand, T. Leinhos und E. Oesterschulze
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