Münster 1999 – scientific programme
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DS: Dünne Schichten
DS 7: Charakterisierungsverfahren I
Monday, March 22, 1999, 09:30–11:00, H 55
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09:30 | DS 7.1 | Invited Talk: Wachstumsuntersuchungen an heteroepitaktischen dünnen Filmen mittels Röntgenbeugung — •E. Weschke, C. Schüßler-Langeheine, R. Meier, G. Kaindl, C. Sutter und G. Grübel |
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10:15 | DS 7.2 |
Invited Talk:
Anwendung optischer Spektroskopiemethoden während des Wachstums von Halbleiterschichten — •D.R.T. Zahn |