Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
DS: Dünne Schichten
DS 7: Charakterisierungsverfahren I
Montag, 22. März 1999, 09:30–11:00, H 55
![]() |
09:30 | DS 7.1 | Hauptvortrag: Wachstumsuntersuchungen an heteroepitaktischen dünnen Filmen mittels Röntgenbeugung — •E. Weschke, C. Schüßler-Langeheine, R. Meier, G. Kaindl, C. Sutter und G. Grübel |
![]() |
10:15 | DS 7.2 |
Hauptvortrag:
Anwendung optischer Spektroskopiemethoden während des Wachstums von Halbleiterschichten — •D.R.T. Zahn |