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DS: Dünne Schichten

DS 7: Charakterisierungsverfahren I

Montag, 22. März 1999, 09:30–11:00, H 55

	09:30	DS 7.1	Hauptvortrag: Wachstumsuntersuchungen an heteroepitaktischen dünnen Filmen mittels Röntgenbeugung — •E. Weschke, C. Schüßler-Langeheine, R. Meier, G. Kaindl, C. Sutter und G. Grübel
	10:15	DS 7.2	Hauptvortrag: Anwendung optischer Spektroskopiemethoden während des Wachstums von Halbleiterschichten — •D.R.T. Zahn