Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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HL: Halbleiterphysik

HL 12: Poster I

HL 12.99: Poster

Montag, 22. März 1999, 14:00–18:00, Z

Admittanzmessung zur Qualitätskontrolle von Dünnschichtsolarzellen — •D. Berkhahn¹, F. Engelhardt¹, Th. Meyer¹, J. Parisi¹ und U. Rau² — ¹Fachbereich Physik, Universität Oldenburg, Carl von Ossietzky Straße 9-11, D-26111 Oldenburg — ²Institut für Physikalische Elektronik, Universität Stuttgart, Pfaffenwaldring 47, D-70569 Stuttgart

Es wird gezeigt, daß die Methode der Admittanzmessung zur Qualitätskontrolle von Dünnschichtsolarzellen geeignet ist. Die Admittanz wurde temperaturabhängig von 20 bis 300K an durch RTP-Verfahren hergestelltem Cu(In,Ga)Se₂/CdS/ZnO gemessen. Die Untersuchung der Meßergebnisse ergibt, daß alle den Wirkungsgrad bestimmenden Kenngrößen U_oc, I_sc und Füllfaktor eindeutig mit den Admittanzmessungen verknüpft werden können. Aus den gemessenen Admittanzspektren läßt sich auf die physikalischen Verlustmechanismen schließen, die die Kenngrößen der Solarzelle beschränken.