Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 14: Schichtcharakterisierung I

Dienstag, 28. März 2000, 16:15–17:00, H31

	16:15	DS 14.1	Fachvortrag: Blockingspektroskopie mit MeV Ionenstrahlen zur Charakterisierung kristalliner dünner Schichten und zur Lokalisierung von Fremdatomen in Einkristallen — •Hans Hofsäss, Carsten Ronning, Stefano Virdis, Michael Uhrmacher, Felix Harbsmeier, Sankar Dhar und Klaus-Peter Lieb
	16:30	DS 14.2	Fachvortrag: Charakterisierung dünner SBT-Filme auf Elektroden mit Schichtstruktur mittels Röntgenreflektivität — •Markus Aspelmeyer, Uwe Klemradt und Günther Schindler
	16:45	DS 14.3	Fachvortrag: Hochauflösende transmissionselektronenmikroskopische Untersuchung der Mikrostrukturen von IBAD-hergestellten biaxial texturierten YSZ- und laserdeponierten YBCO-Schichten — •L.O. Kautschor, J. Dzick, C. Jooss, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt