Regensburg 2000 – scientific programme
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DS: Dünne Schichten
DS 26: Optische Schichten I
Wednesday, March 29, 2000, 16:00–16:45, H32
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16:00 | DS 26.1 | Invited Talk: Untersuchung optischer Eigenschaften von Halbleiterschichten mittels Verallgemeinerter Infrarot-Ellipsometrie — •Mathias Schubert, Thomas E. Tiwald und John A. Woollam |