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DS: Dünne Schichten

DS 26: Optische Schichten I

Mittwoch, 29. März 2000, 16:00–16:45, H32

	16:00	DS 26.1	Hauptvortrag: Untersuchung optischer Eigenschaften von Halbleiterschichten mittels Verallgemeinerter Infrarot-Ellipsometrie — •Mathias Schubert, Thomas E. Tiwald und John A. Woollam