Regensburg 2000 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 10: Rastersondentechniken (I)

O 10.9: Talk

Monday, March 27, 2000, 18:15–18:30, H44

Optische Nahfeldmikroskopie mit nanoskopischen Metallteilchen als Sonden — •Marcus Ramstein, Thomas Kalkbrenner, Vahid Sandoghdar und Jürgen Mlynek — Universität Konstanz/Optikzentrum Konstanz, Fachbereich Physik, Fach M696, 78457 Konstanz
www.uni-konstanz.de/quantum-optics/nano-optics

Bei der optischen Nahfeldmikroskopie mit Streusonden werden in der Regel metallische oder dielektrische Rastersondenspitzen verwendet, um die evaneszenten Felder auf der Probe in das Fernfeld zu streuen. Die optische Auflösung hängt dabei prinzipiell nur von der Größe des Streuzentrums ab. Ein großes Problem bei diesen Streusonden besteht im starken Hintergrundsignal der Fernfeldbeleuchtung sowie in der undefinierten Spitzenform der verwendeten Sonden, die einen Vergleich der experimentellen Daten mit theoretischen Modellen erschweren.
Unser Ansatz besteht in der Verwendung nanoskopischer Metallcluster als Streuzentrum. Ein einzelner Cluster kann nach der optischen Charakterisierung in einem Laser-Konfokalmikroskop mit einer dielektrischen Rastersondenspitze aufgenommen werden. Dieses Verfahren erlaubt die Variation der Teilchengröße und ermöglicht damit systematische Untersuchungen des Abbildungsmechanismus in dieser SNOM-Konfiguration. Zusätzlich können die optischen Eigenschaften der Metallteilchen wie Plasma-Resonanzen und nichtlineare Effekte ausgenützt werden, um das Signal-Hintergrund-Verhältnis zu verbessern. Erste Ergebnisse zur Herstellung und optischen Charakterisierung der Sonden werden vorgestellt.