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14:30 |
O 25.1 |
Implementierung einer Projektor-augmentierten Pseudopotentialmethode — •W. Kromen, S. Blügel und K. Schroeder
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14:45 |
O 25.2 |
The Role of Atomic Relaxation and of the xc Functional in the Calculation of the Surface Stress Tensor — •Weixue Li, Frank Wagner, and Matthias Scheffler
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15:00 |
O 25.3 |
Bestimmung der segregierenden Adlayer Konzentration aus Dotierprofilen — •Michael Oehme, Matthias Bauer und Erich Kasper
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15:15 |
O 25.4 |
Elimination von Geisteratomen in der LEED-Holographie — •A. Seubert, D.K. Saldin, J. Bernhardt, U. Starke und K. Heinz
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15:30 |
O 25.5 |
Genauigkeit und inneres Potential in der LEED-Strukturbestimmung — •K. Heinz, S. Walter, V. Blum, L. Hammer, S. Müller und M. Giesen
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15:45 |
O 25.6 |
Die Rolle thermischer Schwingungen bei der Bestimmung chemischer Zusammensetzungen mittels LEED — •V. Blum, L. Hammer, W. Meier, K. Heinz, M. Schmid, E. Lundgren und P. Varga
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16:00 |
O 25.7 |
Analyse von SPA-LEED Profilen mit der Maximum Entropy Methode — •Martin Gierer, Alexander Iglesias, Alexander Hirnet und Wolfgang Moritz
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16:15 |
O 25.8 |
Inhomogene Linienverbreiterung in der Summenfrequenz-Schwingungsspektroskopie — •W. Daum und F. Dederichs
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16:30 |
O 25.9 |
Der Einfluß mechanischer Kräfte auf die Struktur molekularer Filme. Eine Untersuchung mittels optischer Frequenzverdopplung (SHG) — •Martin T. Strobel, Manfred Buck und Michael Grunze
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16:45 |
O 25.10 |
Aufbau einer Apparatur zur Abbildung einzelner Moleküle durch Holographie mit Elektronenpunktquellen — •Andreas Eisele, Berthold Völkel, Andreas Glenz, Barbara Jäger, Armin Gölzhäuser und Michael Grunze
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17:00 |
O 25.11 |
Mikrospektroskopie und Spektromikroskopie mit PEEM unter Verwendung eines neuartigen bildgebenden Energiefilters — •M. Merkel, M. Escher, J. Settemeyer, A. Oelsner, O. Schmidt, Ch. Ziethen und G. Schönhense
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17:15 |
O 25.12 |
Geometrische Abbildungsdeformation ein- und zweidimensionaler Strukturen aufgrund von Probenkontaktpotentialdifferenzen im Emissionselektronenmikroskop — •S. A. Nepijko, Ch. Ziethen, G. Schönhense, M. Merkel und M. Escher
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17:30 |
O 25.13 |
Röntgenphotoelektronenbeugung an der (√3×√3)Sb/Si(111) — •M. Schürmann, S. Dreiner, C. Westphal und H. Zacharias
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17:45 |
O 25.14 |
Corrugation vs Resistance – A Pictorial Model of the STM — •Mustafa H.A. Riza, Christian Bracher, and Manfred Kleber
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