Hamburg 2001 – scientific programme
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DS: Dünne Schichten
DS 30: Schichteigenschaften VII
DS 30.6: Talk
Friday, March 30, 2001, 13:15–13:30, S 13/14
Röntgenbeugung an dünnen epitaktischen Ba0.5Sr0.5TiO3-Filmen auf SrTiO3-Substrat — •Klemradt U.1, Aspelmeyer M.1, Le Bolloc’h D.2, Metzger T.H.2, Hao J.3 und Xi X.X.3 — 1Sektion Physik und Center for NanoScience, Ludwig-Maximilians-Universität München, Geschw.-Scholl-Pl. 1, 80539 München — 2European Synchrotron Radiation Facility, 38043 Grenoble, Frankreich — 3Dept. of Physics, Pennsylvania State University, PA 16802, USA
Untersucht wurden einkristalline Ba0.5Sr0.5TiO3 (BST)-Filme mit Dicken zwischen 20 und 100 nm, die epitaktisch auf (100)-orientierten, Nb-dotierten SrTiO3-Substraten aufgewachsen wurden. Mittels Synchrotronstrahlung wurden bei Röntgenenergien von 7.6 keV und 9.5 keV Positionen und Linienprofile der Braggreflexe des Filmes als Funktion der Temperatur untersucht. Dabei kamen sowohl Streugeometrien mit einem Streuvektor in Wachstumsrichtung (konventionelle Weitwinkelbeugung) als auch solche mit einem Streuvektor in der Grenzfläche (Beugung unter streifendem Einfall) zum Einsatz. Die Ergebnisse werden im Hinblick auf Vorläufereffekte der ferroelektrischen Phasenumwandlung und tiefenabhängige strukturelle Eigenschaften diskutiert. Die beobachteten Profile der Braggreflexe weisen auf signifikante innere Spannungen hin.