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DS: Dünne Schichten

DS 30: Schichteigenschaften VII

DS 30.6: Vortrag

Freitag, 30. März 2001, 13:15–13:30, S 13/14

Röntgenbeugung an dünnen epitaktischen Ba_0.5Sr_0.5TiO₃-Filmen auf SrTiO₃-Substrat — •Klemradt U.¹, Aspelmeyer M.¹, Le Bolloc’h D.², Metzger T.H.², Hao J.³ und Xi X.X.³ — ¹Sektion Physik und Center for NanoScience, Ludwig-Maximilians-Universität München, Geschw.-Scholl-Pl. 1, 80539 München — ²European Synchrotron Radiation Facility, 38043 Grenoble, Frankreich — ³Dept. of Physics, Pennsylvania State University, PA 16802, USA

Untersucht wurden einkristalline Ba_0.5Sr_0.5TiO₃ (BST)-Filme mit Dicken zwischen 20 und 100 nm, die epitaktisch auf (100)-orientierten, Nb-dotierten SrTiO₃-Substraten aufgewachsen wurden. Mittels Synchrotronstrahlung wurden bei Röntgenenergien von 7.6 keV und 9.5 keV Positionen und Linienprofile der Braggreflexe des Filmes als Funktion der Temperatur untersucht. Dabei kamen sowohl Streugeometrien mit einem Streuvektor in Wachstumsrichtung (konventionelle Weitwinkelbeugung) als auch solche mit einem Streuvektor in der Grenzfläche (Beugung unter streifendem Einfall) zum Einsatz. Die Ergebnisse werden im Hinblick auf Vorläufereffekte der ferroelektrischen Phasenumwandlung und tiefenabhängige strukturelle Eigenschaften diskutiert. Die beobachteten Profile der Braggreflexe weisen auf signifikante innere Spannungen hin.