Regensburg 2004 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 28: Postersitzung (Elektronische Struktur, Grenzfläche fest-flüssig, Halbleiteroberflächen und -grenzflächen, Magnetismus und Symposium SYXM, Methodisches, Nanostrukturen, Oberflächenreaktionen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie)
O 28.71: Poster
Wednesday, March 10, 2004, 16:00–19:00, Bereich C
Zeit- und energieaufgelöste Untersuchungen des Transports optisch angeregter Elektronen in Metall-Isolator-Metall-Kontakten — •Sven Schramm1, Johannes Schneider1, Walter Pfeiffer1 und Detlef Diesing2 — 1Physikalisches Institut Universität Würzburg, Experimentelle Physik 1, 97074 Würzburg — 2Institut für Schichten und Grenzflächen, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich
Metall-Isolator-Metallkontakte (MIM) bestehen aus zwei Metallelektroden die durch eine dünne Oxidschicht getrennt sind (Ta-TaO-Ag, Al-Al2O3-Ag). Sie bilden ein Modellsystem zur Untersuchung des lichtinduzierten Elektronentransports durch die Oxid-Barriere. Aufgrund der starken Zunahme der Transmission der Tunnelbarriere für optisch angeregte Ladungsträger werden diese nach Anregung mit ultrakurzen Lichtimpulsen als kurzer Elektronenpuls in die Gegenelektrode injiziert. Aufgrund der inhomogenen Anregung kommt es zu einem resultierenden Photostrom. Ausgehend von den bislang durchgeführten Photostrommessungen [1] wird dieser Injektionsvorgang nun auch energieaufgelöst untersucht. Hierzu werden in der Rückelektrode des Kontaktes Elektronen mit einem ultrakurzen Lichtimpuls angeregt und dann durch zeitkorrelierte Photoemission in der Deckelektrode nachgewiesen. Der Nachweis des Injektionstromes hängt stark von den Anregungsbedingungen und den Barriereneigenschaften ab.
[1] Thon et al., Appl.Phys. A 78 (2004) 189