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O: Oberflächenphysik

O 28: Postersitzung (Elektronische Struktur, Grenzfläche fest-flüssig, Halbleiteroberflächen und -grenzflächen, Magnetismus und Symposium SYXM, Methodisches, Nanostrukturen, Oberflächenreaktionen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie)

O 28.71: Poster

Mittwoch, 10. März 2004, 16:00–19:00, Bereich C

Zeit- und energieaufgelöste Untersuchungen des Transports optisch angeregter Elektronen in Metall-Isolator-Metall-Kontakten — •Sven Schramm¹, Johannes Schneider¹, Walter Pfeiffer¹ und Detlef Diesing² — ¹Physikalisches Institut Universität Würzburg, Experimentelle Physik 1, 97074 Würzburg — ²Institut für Schichten und Grenzflächen, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich

Metall-Isolator-Metallkontakte (MIM) bestehen aus zwei Metallelektroden die durch eine dünne Oxidschicht getrennt sind (Ta-TaO-Ag, Al-Al₂O₃-Ag). Sie bilden ein Modellsystem zur Untersuchung des lichtinduzierten Elektronentransports durch die Oxid-Barriere. Aufgrund der starken Zunahme der Transmission der Tunnelbarriere für optisch angeregte Ladungsträger werden diese nach Anregung mit ultrakurzen Lichtimpulsen als kurzer Elektronenpuls in die Gegenelektrode injiziert. Aufgrund der inhomogenen Anregung kommt es zu einem resultierenden Photostrom. Ausgehend von den bislang durchgeführten Photostrommessungen [1] wird dieser Injektionsvorgang nun auch energieaufgelöst untersucht. Hierzu werden in der Rückelektrode des Kontaktes Elektronen mit einem ultrakurzen Lichtimpuls angeregt und dann durch zeitkorrelierte Photoemission in der Deckelektrode nachgewiesen. Der Nachweis des Injektionstromes hängt stark von den Anregungsbedingungen und den Barriereneigenschaften ab.

[1] Thon et al., Appl.Phys. A 78 (2004) 189