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Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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HL: Halbleiterphysik

HL 44: II-VI Halbleiter IV

HL 44.3: Vortrag

Montag, 7. März 2005, 15:30–15:45, TU P-N201

Diffusion von Ag in CdTe bei Ko-Diffusion von Cu oder Au — •F. Wagner, H. Wolf und Th. Wichert — Technische Physik, Universität des Saarlandes, D-66123 Saarbrücken

Es werden experimentelle Untersuchungen vorgestellt, die zeigen, dass die Diffusion von Ag in einkristallinem CdTe stark von der Anwesenheit anderer Gruppe I Elemente beeinflusst wird. Diese Diffusionsexperimente wurden mit den Radiotracern 111Ag und 67Cu durchgeführt.
Wird nach einseitiger Implantation von 111Ag (60 - 80 keV) in einen 500 µm dicken CdTe Kristall auf die Implantationsseite Cu aufgedampft und anschließend der Kristall für 30 min bei 550 K getempert, befindet sich das implantierte Ag nahezu vollständig in einer Schicht von ca. 1 µm an der Rückseite des Kristalls. Die Ko-Diffusion von Cu beschleunigt somit deutlich die Diffusion von Ag. Wird dagegen als Radiotracer 67Cu implantiert und anschließend Ag auf der Implantationsseite aufgedampft, so zeigt sich kein signifikanter Einfluss von Ag auf die Cu Diffusion. Ebenso wie Cu übt auch die Ko-Diffusion von Au einen deutlichen Einfluss auf die 111Ag Diffusion aus, jedoch ist der Beschleunigungseffekt deutlich schwächer als im Fall der Ko-Diffusion von Cu. Alle Beobachtungen lassen sich dadurch erklären, dass (i) die Diffusion von Gruppe I Elementen in CdTe stark durch die Wechselwirkung mit interstitiellen Cd-Atomen (Kick-out Mechanismus) beeinflusst wird, (ii) interstitielle Gruppe I Elemente eine sehr hohe Beweglichkeit haben und (iii) Ag schwächer auf dem substitutionellen Platz des Cd Untergitters gebunden ist als Cu oder Au.
Gefördert durch das BMBF, Projekt 05KK1TSB/5 und die DFG, Projekt Wi715/-1

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