Regensburg 2007 – scientific programme
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DS: Fachverband Dünne Schichten
DS 14: Thin Film Analytics III
DS 14.4: Talk
Tuesday, March 27, 2007, 17:30–17:45, H34
Gitteranpassung von kristallinen, SE-dotierten PLD-Schichten am Beispiel YVO4 — •Bilge Ileri1, Günter Huber1 und Sebastian Bär2 — 1Institut für Laser-Physik, Universität Hamburg — 2Universität Tübingen
Die Herstellung epitaktisch gewachsener, kristalliner Schichten ist für eine Vielzahl von Anwendungen wie Wellenleiterschichten oder kristalline Coatings interessant. Entscheidend hierbei ist für die meisten Anwendungen die hochwertige Qualität der Schichten. Dabei entscheidend ist das unmittelbare Wachstum auf dem Substrat, die sogenannte Grenzschicht.
Bei der Schichtherstellung mittels Pulsed Laser Deposition wird gitterangepasstes, epitaktisches Wachstum untersucht und am Beispiel von Ortho-Vanadatschichten vorgestellt. Ausgehend von Eu-dotierten GdVO4-Schichten auf Saphir mit einer Gitterfehlanpassung von einigen Prozenten werden die strukturellen und spektroskopischen Auswirkungen bei gradueller Reduzierung der Fehlanpassung bis hin zu gitterangepasstem Schichtwachstum untersucht.
Dabei werden Strukturuntersuchungen mittels Röntgenbeugung und Spektroskopie von Al2O3-Eu:GdVO4, YVO4-Eu:GdVO4 und YVO4-Eu:(GdLu)VO4 präsentiert und gitterangepasstes Schichtwachstum demonstriert. Ergänzende Untersuchungen mittels AFM und Oberflächenröntgenbeugung werden vorgestellt.