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DS: Fachverband Dünne Schichten

DS 14: Thin Film Analytics III

DS 14.4: Vortrag

Dienstag, 27. März 2007, 17:30–17:45, H34

Gitteranpassung von kristallinen, SE-dotierten PLD-Schichten am Beispiel YVO₄ — •Bilge Ileri¹, Günter Huber¹ und Sebastian Bär² — ¹Institut für Laser-Physik, Universität Hamburg — ²Universität Tübingen

Die Herstellung epitaktisch gewachsener, kristalliner Schichten ist für eine Vielzahl von Anwendungen wie Wellenleiterschichten oder kristalline Coatings interessant. Entscheidend hierbei ist für die meisten Anwendungen die hochwertige Qualität der Schichten. Dabei entscheidend ist das unmittelbare Wachstum auf dem Substrat, die sogenannte Grenzschicht.

Bei der Schichtherstellung mittels Pulsed Laser Deposition wird gitterangepasstes, epitaktisches Wachstum untersucht und am Beispiel von Ortho-Vanadatschichten vorgestellt. Ausgehend von Eu-dotierten GdVO₄-Schichten auf Saphir mit einer Gitterfehlanpassung von einigen Prozenten werden die strukturellen und spektroskopischen Auswirkungen bei gradueller Reduzierung der Fehlanpassung bis hin zu gitterangepasstem Schichtwachstum untersucht.

Dabei werden Strukturuntersuchungen mittels Röntgenbeugung und Spektroskopie von Al₂O₃-Eu:GdVO₄, YVO₄-Eu:GdVO₄ und YVO₄-Eu:(GdLu)VO₄ präsentiert und gitterangepasstes Schichtwachstum demonstriert. Ergänzende Untersuchungen mittels AFM und Oberflächenröntgenbeugung werden vorgestellt.