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DS: Fachverband Dünne Schichten
DS 14: Thin Film Analytics III
DS 14.5: Vortrag
Dienstag, 27. März 2007, 17:45–18:00, H34
Characterization of GdScO3 layers by Spectroscopic Ellipsometry — Martin Roeckerath, •Jürgen Moers, Jürgen Schubert, and Siegfried Mantl — Institut of Bio- und Nanosystems, Forschungszentrum Jülich, D-52425 Jülich
This contribution has been appended to session DS 26.