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Göttingen 2012 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 68: Halbleiterdetektoren: Laufende Experimente und Elektronik

T 68.6: Talk

Monday, February 27, 2012, 18:00–18:15, ZHG 005

Deplentionstiefenmessung im ATLAS Pixel DetektorBeniamino Di Girolamo2, Stephen Gibson2, Jörn Grosse-Knetter1, •Andre Schorlemmer1,2, Arnulf Quadt1 und Jens Weingarten11II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen — 2CERN

Die innerste Komponente des ATLAS Experiments ist der Pixel Detektor. Die Halbleitersensoren des ALTAS Pixel Detektors haben eine Dicke von 250 µm und werden zurzeit vollständig depletiert betrieben. Die Strahlenbelastung durch den LHC hat jedoch eine Veränderung der effektiven Dotierung der Halbleitersensoren zur Folge. Um sicherzustellen, dass der Detektor vollständig depletiert bleibt, muss die Betriebsspannung mit der Zeit erhöht werden. Da die maximale Spannung limitiert ist, wird die Depletionstiefe mit zunehmender Bestrahlung des Detektors abnehmen. Durch den Rückgang des sensitiven Volumens im Sensor wird die Effizienz des Detektors verringert. Die Depletionstiefe wird mit Hilfe der Cluster-Größe und der rekonstruierten Spur des entsprechenden Teilchens gemessen. Da die Messung Teilchenspuren verwendet, kann sie kontinuierlich während der gesamten Betriebszeit des LHC durchgeführt werden. Dieser Vortrag erläutert die Methode der Messung und stellt erste Ergebnisse vor.

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