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T: Fachverband Teilchenphysik

T 68: Halbleiterdetektoren: Laufende Experimente und Elektronik

T 68.6: Vortrag

Montag, 27. Februar 2012, 18:00–18:15, ZHG 005

Deplentionstiefenmessung im ATLAS Pixel Detektor — Beniamino Di Girolamo², Stephen Gibson², Jörn Grosse-Knetter¹, •Andre Schorlemmer^1,2, Arnulf Quadt¹ und Jens Weingarten¹ — ¹II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen — ²CERN

Die innerste Komponente des ATLAS Experiments ist der Pixel Detektor. Die Halbleitersensoren des ALTAS Pixel Detektors haben eine Dicke von 250 µm und werden zurzeit vollständig depletiert betrieben. Die Strahlenbelastung durch den LHC hat jedoch eine Veränderung der effektiven Dotierung der Halbleitersensoren zur Folge. Um sicherzustellen, dass der Detektor vollständig depletiert bleibt, muss die Betriebsspannung mit der Zeit erhöht werden. Da die maximale Spannung limitiert ist, wird die Depletionstiefe mit zunehmender Bestrahlung des Detektors abnehmen. Durch den Rückgang des sensitiven Volumens im Sensor wird die Effizienz des Detektors verringert. Die Depletionstiefe wird mit Hilfe der Cluster-Größe und der rekonstruierten Spur des entsprechenden Teilchens gemessen. Da die Messung Teilchenspuren verwendet, kann sie kontinuierlich während der gesamten Betriebszeit des LHC durchgeführt werden. Dieser Vortrag erläutert die Methode der Messung und stellt erste Ergebnisse vor.