Berlin 2015 – scientific programme
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MI: Fachverband Mikrosonden
MI 8: Ionenstrahlmethoden
Wednesday, March 18, 2015, 11:00–11:30, EMH 225
11:00 | MI 8.1 | Ionenfeinstrahlen hochgeladener Ionen zur Analytik von Festkörperoberflächen und von Flüssigkeiten — •Günter Zschornack, Mike Schmidt, Jacques Gierak, Ulrich Kentsch und Erik Ritter | |
11:15 | MI 8.2 | Latest developments in ultra-high 2D and 3D SIMS imaging using novel ion sources and a new TOF-SIMS/FIB system — •Sven Kayser, Derk Rading, Felix Kollmer, Rudolf Möllers, and Ewald Niehuis | |