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MI: Fachverband Mikrosonden

MI 8: Ionenstrahlmethoden

Mittwoch, 18. März 2015, 11:00–11:30, EMH 225

	11:00	MI 8.1	Ionenfeinstrahlen hochgeladener Ionen zur Analytik von Festkörperoberflächen und von Flüssigkeiten — •Günter Zschornack, Mike Schmidt, Jacques Gierak, Ulrich Kentsch und Erik Ritter
	11:15	MI 8.2	Latest developments in ultra-high 2D and 3D SIMS imaging using novel ion sources and a new TOF-SIMS/FIB system — •Sven Kayser, Derk Rading, Felix Kollmer, Rudolf Möllers, and Ewald Niehuis